【电化学工作站】M470微区扫描电化学工作站面扫描实验的后处理与优化
  • 发布时间 : 2020-09-23 15:08:52
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M470面扫描实验的后处理与优化
1.简介
M470面扫描实验开始前,调整、检查样品的时间往往很长。如果可以在噪声信号中增强数据信号并收集数据信号,可以大大减少时间投入。这样的话,实验就会变得更快、更简略。
本文介绍了四个即时有效的数据处理的方法,可以用于那些为了缩短实验时间而进行的快速扫描获得的实验数据。
本文演示的是一个不是特别水平的SKP样品,设备没有设置成提取有效数据的状态,实验结果很糟糕。处理后的数据显示在扫描中心附近有一个小压痕。为了进行比较,还做了进一步的检查。
2.快速CHM测试

标准SKP样品安装到TriCell电解池中,为了演示,只对样品粗略调平。SKP探针距样品约160?m(正常实验中应为100?m),做一个快速的CHM实验。扫描速率为2mm/s,没有延迟,没有调节时间。设置尽量少的滤波,允许所有信号和噪声通过。在5mm2的面积上扫51*51个点(总共2601个点),实验时间4分48秒。结果如图1所示。

图1 左图:25mm2的原始快速实验结果;右图:右键分析菜单

图1中可见,没有任何特别的点。然而,应用分析功能“Tilt Correction”、“Filter”、“Curve Subtraction”、“Interpolate”后,实验结果马上变得很明显,如图2所示。

图2 分析功能的应用
图2中,左上角的图是用“Tilt-Correction”分析后的结果。这个选项可以找出用户所选数据中的最适合的平坦区,然后从数据中去除这个平坦区。
数据调平后,采用“Filter”分析,得到如图2右上角的数据。“Fourier-filters”要求用户输入滤波器的类型(这里选低通)、截止频率、退出。这里,通过数据检查,确定截止频率。滤波器的截止频率约4000m-1。滤波器阶数设置为5。
傅里叶滤波使上下边更圆润,选择“Curve Subtraction”。设置一个最合适的多项式来选择数据。这里用一个四次多项式来移除Y轴上的朝上的数据边缘。结果如图2左下所示。
最后,减去曲线后的数据从51*51个点插补为201*201个点,结果如图2右下图和图3左图所示。

为了对比,调平样品,更恰当地设置系统。两种结果的并列比较如图3所示。

图3 左图:噪声快速扫描数据,后处理;右图:较慢的、更多考虑后获得的数据
图3左图,数据与图2右下图是一样的。数据是有噪声下获得的,样品未调平。实验时间4分48秒。图3右图,样品调平,数据在非常慢速下获得。实验时间21分52秒。连续扫描更慢(400?m/s,而不是2000?m/s),步长更小(62.5?m,而不是100?m)。
3.结论
本文展示了M370和M470软件中的数据后处理分析工具,可以用来提取有效数据。这些工具分别为:“Tilt Correction”、“Filter”、“Curve Subtraction”、“Interpolate”。
尽管有这些强大的工具,用户一定要牢记,获得有效数据、减少噪声的最好方法是适当的设置实验。缺点是测试时间会比较长。
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